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공정 조건과 검사 목적에 맞는 루모스 제품군을 확인하실 수 있습니다.

LUM-B Series

산업 · 연구 현장에서 범용적으로 사용 가능한 RAW 레이저 빔 프로파일러이며, 파장대와 센서 구성에 따라 모델을 선택하여 다양한 레이저(UV~IR)에 대응할 수 있습니다.

대면적 센서 기반으로 대구경 · 대형 빔 측정을 지원하는 빔 프로파일러이며, 확장빔과 플랫탑빔, 스캐닝 전 빔 품질 검증에 적합합니다.

UV~IR 구간 측정을 ONE-BODY 통합 구조로 제공하는 Micro Spot Measurement 빔 프로파일러입니다.

정밀한 3D 빔 프로파일링 및 분석을 위해 설계된 전용 시스템입니다. 스팟 사이즈(Spot size)와 초점 심도(DOF) 측정이 가능하며, 직관적인 2D 및 3D 빔 프로파일 뷰어를 통해 3D 광도(Intensity) 분포를 상세하게 분석할 수 있습니다.

현재 미정